Yksiseinäinen hiilinanoputki SWCNT
Yksiseinäisten hiilinanoputkien tekniset tiedot:
Ulkohalkaisija: 20–30 nm
Tunnus: 5–10 nm
Pituus: 10-30 um
Sisältö: >90 painoprosenttia
CNT-pitoisuus: >38 painoprosenttia
Valmistusmenetelmä: CVD
Jätevedenpuhdistamossa käytettyjen SWCNT-putkien edut:
Sovellus: Hiilinanoputken halkaisijan ja kierrekulman eron vuoksi se voi olla joko metallinen tai puolijohtava. Sitä voidaan käyttää molekyylitason diodien valmistukseen, ja diodi on kooltaan jopa nanometri, mikä on paljon pienempi kuin nykyiset yleisdiodit. Hiilinanoputkella on suurin lujuus, ja se on paljon vahvempaa kuin teräs. Samalla se on erittäin kevyt, vain kymmenesosa teräksen painosta. Sillä on erinomaiset sovellusmahdollisuudet komposiittimateriaalien alalla, ja sillä on suuri vaikutus ilmailu- ja avaruusteollisuuteen.
Hiilinanoputkella on erinomainen kenttäemissiokyky. Sitä voidaan käyttää litteiden näyttöjen valmistuksessa ja suurten ja raskaiden katodielektroniputkien tekniikan sijaan. Lisäksi hiilinanoputkia voidaan käyttää myös molekyylilaakereiden ja nanorobottien valmistuksessa. Se soveltuu käytettäväksi energian varastointimateriaalina, kuten vedyn varastointiin. Lääketieteellisessä tekniikassa sitä voidaan käyttää nanosäiliönä ja annostuksen hallintaan.
Hiilinanoputki on nanoluokan putkimainen grafiittikite, joka koostuu yksi- tai monikerroksisesta hiutalegrafiitista, joka ympäröi keskiakselia tietyn spiraalikulman mukaisesti ja muodostaa saumattoman lieriömäisen putken. Erityisen rakenteensa ansiosta sillä on monia erityisominaisuuksia, ja sitä voidaan käyttää elektroniikassa, koneissa, lääketieteessä, energiassa, kemikaaleissa, optiikassa ja muilla materiaalitieteen aloilla, sekä potentiaalisesti arkkitehtuurin aloilla. Niillä on poikkeuksellinen lujuus ja ainutlaatuiset sähköiset ominaisuudet, ja ne ovat tehokkaita lämmönjohtimia.
Hiilinanoputkien lujuus ja joustavuus tekevät niistä potentiaalisia käyttötarkoituksia muiden nanomittakaavan rakenteiden ohjaamisessa, mikä viittaa siihen, että niillä on tärkeä rooli nanoteknologian suunnittelussa.

Kiinteistö | Yksikkö | SWCNT:t | Mittausmenetelmä | ||
OD | nm | 1-2 | 1-2 | 1-2 | HRTEM, Raman |
Puhtaus | painoprosentti | >90 | >90 | >90 | TGA ja TEM |
Pituus | mikronia | 5–30 | 5–30 | 5–30 | TEM |
SSA | m²/g | >380 | >300 | >320 | VETO |
TUHKA | painoprosentti | <5 | <5 | <5 | HRTEM, TGA |
Ig/Id | -- | >9 | >9 | >9 | Raman |
-OH-funktionalisoitu | painoprosentti | 3.96 | XPS ja titraus | ||
-COOH-funktionalisoitu | painoprosentti | 2.73 | XPS ja titraus |